激光光束參數測量技術

· 光斑尺寸測量

 CCD/CMOS 相機技術：利用電荷耦合器件（CCD）或互補金屬氧化物半導體（CMOS）相機拍攝激光光斑圖像，通過圖像處理算法分析光斑的強度分布，從而確定光斑的尺寸和形狀。這種方法具有高分辨率、快速響應的特點，能夠實時監(jiān)測光斑的變化。

狹縫掃描技術：通過移動狹縫對激光光束進行掃描，測量狹縫后光強的變化，進而計算出光斑在不同方向上的尺寸。該方法精度較高，但測量速度相對較慢，適用于對光斑尺寸精度要求較高的場合。

· 光束發(fā)散角測量

遠場測量法：在激光光束的遠場區(qū)域，通過測量不同距離處光斑的尺寸，根據幾何關系計算出光束的發(fā)散角。這種方法簡單直接，但需要較大的測量空間，且對測量距離的精度要求較高。

基于透鏡成像的測量法：利用透鏡將激光光束成像在焦平面上，通過測量焦平面上光斑的尺寸和透鏡的焦距，計算出光束的發(fā)散角。該方法可以減小測量空間，提高測量精度，是一種常用的光束發(fā)散角測量方法。

· 光束功率和能量測量

熱釋電探測器：基于熱釋電效應，將激光能量轉化為熱信號，進而測量激光的功率和能量。熱釋電探測器具有寬光譜響應、高靈敏度和快速響應的特點，適用于測量脈沖激光和連續(xù)激光的能量和功率。

量熱計：通過測量吸收激光能量后介質的溫度升高，來計算激光的能量和功率。量熱計測量精度高，但響應速度較慢，適用于對能量測量精度要求高的場合。

激光光束質量評價技術

· M2 因子測量

二階矩法：通過測量激光光束在不同位置的強度分布，計算出光束的二階矩，進而得到 M2 因子。這種方法基于激光光束的統(tǒng)計特性，能夠全面地描述光束的質量，是目前廣泛應用的 M2 因子測量方法。

刀邊法：利用刀口對激光光束進行掃描，測量光束通過刀口時的光強變化，通過擬合光強分布曲線計算出 M2 因子。刀邊法測量簡單易行，但精度相對較低。

· 光束指向穩(wěn)定性測量

位置敏感探測器（PSD）技術：PSD 能夠實時測量激光光斑在探測器表面的位置變化，通過對光斑位置的長期監(jiān)測，評估光束的指向穩(wěn)定性。該方法具有高靈敏度、快速響應的特點，能夠檢測到微小的光束指向變化。

經緯儀測量法：使用經緯儀等精密角度測量儀器，直接測量激光光束的指向角度變化。這種方法精度較高，但操作復雜，需要專業(yè)的設備和技術人員。

相位測量技術

· 干涉測量法

馬赫 - 曾德爾干涉儀：將激光光束分成兩束，通過不同的光路傳播后再合并，利用兩束光的干涉條紋來測量光束的相位分布。這種方法精度高，可用于測量光束波前的微小變化，但對光路的穩(wěn)定性要求較高。

斐索干涉儀：參考光束和測量光束在同一光路中，通過比較反射回來的兩束光形成干涉條紋，從而測量光束的相位。它適用于測量光學元件的面形和激光光束的波前畸變，具有結構緊湊、測量精度高的優(yōu)點。

· 計算全息術：通過記錄激光光束的全息圖，利用計算機算法對全息圖進行處理和分析，從而獲取光束的相位信息。該技術可

            以同時測量光束的振幅和相位分布，并且可以對復雜的光束進行測量，但需要較高的計算能力和復雜的算法。

空間光調制技術

· 液晶空間光調制器（SLM）：利用液晶材料的電光效應，通過施加不同的電壓來控制液晶分子的取向，從而調制激光光束的振幅、相位或偏振態(tài)。SLM 具有分辨率高、響應速度快、可實時控制等優(yōu)點，在激光光束整形、自適應光學等領域有廣泛應用。

· 數字微鏡器件（DMD）：由大量微小的反射鏡組成，通過控制反射鏡的翻轉角度來調制激光光束的強度和方向。DMD 具有高對比度、高分辨率和快速切換速度的特點，常用于激光光束的圖案生成和光束掃描等方面。

高速測量技術

· 條紋相機技術：條紋相機能夠將時間信息轉換為空間信息，通過對激光脈沖的時間分辨成像，實現對高速激光光束的光斑尺寸、強度分布等參數的測量。它具有皮秒級甚至飛秒級的時間分辨率，適用于研究超短脈沖激光的光束特性。

· 高速光電探測器陣列：采用高速光電探測器陣列，結合高速數據采集系統(tǒng)，可以實現對激光光束的高速實時測量。這種技術能夠捕捉到激光光束在短時間內的動態(tài)變化，對于研究高功率脈沖激光的光束質量演化過程具有重要意義。

非接觸式測量技術

· 光鑷技術：利用激光束形成的光阱來捕獲和操縱微小粒子，通過測量粒子在光阱中的位置和運動狀態(tài)，可以間接獲得激光光束的強度分布和梯度信息，從而評估光束質量。光鑷技術具有非接觸、高精度的特點，適用于對微小尺度激光光束的測量。

· 散射測量技術：通過向激光光束中引入散射介質，如氣溶膠或微小顆粒，然后測量散射光的強度分布和角度分布，來推斷激光光束的參數。這種方法可以在不直接接觸激光光束的情況下進行測量，對于一些高能量、高功率激光光束的測量具有優(yōu)勢，同時也可用于測量光束在復雜介質中的傳播特性。

自適應測量技術

· 自適應光學系統(tǒng)：結合波前傳感器和變形鏡等元件，實時測量激光光束的波前畸變，并通過變形鏡對光束進行校正，以實現對不同質量激光光束的自適應測量。自適應光學系統(tǒng)可以補償大氣湍流、光學元件像差等因素對光束質量的影響，提高測量精度。

· 智能反饋控制技術：根據測量得到的激光光束質量參數，自動調整測量系統(tǒng)的參數或激光光源的工作條件，以實現最佳的測量效果。例如，當檢測到光束功率變化時，自動調整探測器的增益或積分時間；當發(fā)現光束指向不穩(wěn)定時，通過反饋控制裝置調整激光光源的指向，使測量過程更加穩(wěn)定和準確。

推薦設備：

UV激光光束質量分析儀

激光光束質量分析儀

高功率激光光束分析儀

大光斑激光光束分析儀