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d33 壓電系數(shù)測試儀，其分辨率可達0.01pC/N，采用多種測量模式，在測量壓電系數(shù)的同時，可記錄d31, d15, 電容、電量、tan δ等參數(shù)，并也可計算g33、介電常數(shù)和εT33等。可用于鐵電、壓電材料以及相關(guān)器件性能的評價與測試；

電容充放電測試儀，詳細說明：目前常規(guī)電滯回線測試設(shè)備在高壓下測量電容能量密度存在的問題：待測樣品上的電荷被放回到高壓電源，而不是一個有效有意義的負載。

高壓漏電流及熱釋電測量系統(tǒng)，詳細說明：美國Polyk Technologies公司研發(fā)了高壓漏電流和熱釋電測量系統(tǒng)，對于研發(fā)高能量密度和功率介電材料很有幫助！

電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統(tǒng)基于改進優(yōu)化的動態(tài)Sawyer-Tower電路開發(fā)的該系統(tǒng)，用于測量介電和鐵電材料的電荷密度與電場及頻率的關(guān)系；

低溫寬頻介電測量系統(tǒng)當通過LCR Meter或者分析儀（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）測量介電常數(shù)時，加載電壓通常1V左右；然而，很多壓電陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）對于加載的電場具有非線性響應(yīng)；通常它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下變得更低。